扫描设计
为边界扫描测试系统的开发奠定基础。2、探索并设计了基于边界扫描技术和MTM维修总线技术的电路板板级和电子设备系统级的可测性设计,对电路设计人员具有可借鉴作用。
来源:互联网摘选条纹着色对扫描数据立即领域的突出问题的堆焊和未解决的设计问题.
来源:网络文摘精选边缘扫描测试是对大规模集成电路(VLSI)进行测试的一种新的基于可测性设计的测试技术,能极大地降低VLSI测试生成的复杂性,在电路设计与测试领域,近年来得到广泛关注。
来源:互联网摘选A new design rule checking approach based on scan line algorithm for IC layout was proposed.
提出一种新的基于扫描线算法的IC版图几何设计规则检查方法。
来源:互联网摘选文中首先分析了时序元件的不可测因素,提出了扫描设计前增加测试逻辑的设计方法。
来源:互联网摘选然后详细介绍了边界扫描测试卡的设计和边界扫描测试软件的开发。
来源:互联网摘选边界扫描设计正逐步成为可测性设计的主流。
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